杜华冰
- 作品数：110 被引量：74H指数：6
- 供职机构：中国工程物理研究院激光聚变研究中心更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划国家自然科学基金中国工程物理研究院科学技术发展基金更多>>
- 相关领域：理学机械工程电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 激光驱动器输出特性对神光Ⅲ原型黑腔物理实验的影响
- 近年来，中物院激光聚变研究中心在神光Ⅲ原型激光装置上开展了一系列黑腔能量学实验研究，真空黑腔在CPP 束匀滑条件下的散射光份额小于10％。
- 杨冬李三伟李志超易荣清郭亮蒋小华王峰刘永刚彭晓世宋天明章欢魏惠月徐涛王哲斌侯立飞袁永腾詹夏宇陈黎苏春晓于瑞珍杜华冰杨轶蒙陈铭王鹏杨家敏刘慎业江少恩
- 基于分时与重频方法的X射线图像离线读取系统和方法
- 本发明公开一种基于分时与重频方法的X射线图像离线读取系统和方法，其中系统包括：脉冲重频激光器的输出端与分叉光纤的输入端连接，脉冲重频激光器发出的激光通过分叉光纤传播；分叉光纤的第一输出端设置于样品周围，使得脉冲重频激光器...
- 任宽王峰邓克立易涛董建军杜华冰徐涛杨正华尚万里吴玉迟杨东董云松
- 用于平响应X光探测器的复合滤片参数优化被引量：1
- 2017年
- 在间接驱动的激光惯性约束聚变实验中,激光辐照产生的X射线能流的测量非常重要,它可以推测出黑腔的辐射温度和激光腔靶的耦合效率,一般通过平响应X射线探测器得到不同角分布的辐射流数据。通过对平响应复合滤片的结构参数进行优化设计,提高了平响应X射线探测器的测量精度。研究了复合滤片中薄金层、厚金层和孔面积比等结构参数对X射线探测器响应平整度的影响规律。从实验结果中可以得出:滤片和金阴极的标定数据和理论结果基本一致,并且薄金层的厚度对探测器整体响应的平整度起到主要作用,厚金层厚度和孔面积比影响较小,优化后探测器的平响应度达到5%,与理论设计相一致,此时的薄金层厚度、厚金层厚度和孔面积比分别为50 nm、380 nm和1:6.1。
- 车兴森侯立飞杨轶濛杜华冰杨国洪韦敏习
- 关键词：惯性约束聚变
- 一种超薄单晶硅片的制备方法
- 本发明涉及一种超薄单晶硅片的制备方法，包括：1)、刻蚀绝缘体上硅(SOI片)中的目标硅层，刻蚀深度为顶层单晶硅的厚度减去(0.8μm～1.2μm)；2)、腐蚀硅衬底层；3)、将步骤2)所制备的样品放入BHF腐蚀液中，并保...
- 车兴森杨正华张颖娟刘慎业侯立飞杨轶濛杜华冰
- 北京同步辐射3B3中能束线X射线探测系统性能研究被引量：18
- 2006年
- 北京同步辐射装置(BSRF)的3B3中能束线的应用,在国内首次提供了一台能区在2—6keV范围、性能优良的单色X射线光源.对光源的性能进行了研究,并完成了X射线探测器(XRD)灵敏度、滤片厚度、多种晶体衍射效率以及成像板能量响应等指标的标定.XRD标定的相对不确定度好于7%,滤片厚度的不确定度小于3·6%.
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- 一种X射线中性衰减片及其制备方法
- 本发明涉及一种X射线中性衰减片及其制备方法，涉及软X射线辐射流定量测量领域。该制备方法包括：于衬底的一侧表面形成第一导电金属层；于第一导电金属层远离衬底的一侧表面形成光刻胶层，曝光、显影后于光刻胶层形成孔阵列，于具有孔阵...
- 车兴森侯立飞张颖娟刘慎业杜华冰杨轶濛
- 一种具有中性衰减特性的金属滤片及其制备方法
- 本发明涉及一种具有中性衰减特性的金属滤片及其制备方法，涉及软X射线辐射流定量测量领域。该制备方法包括：于衬底的一侧表面形成第一导电金属层；于第一导电金属层远离衬底的一侧表面形成光刻胶层，曝光、显影后于光刻胶层形成第一孔阵...
- 车兴森谢旭飞张颖娟刘慎业侯立飞杜华冰杨轶濛
- 调节装置、X射线探测器及X射线探测系统
- 本发明实施例提出一种调节装置、X射线探测器及X射线探测系统，涉及X射线辐射流定量测量技术领域，该调节装置包括相对平行设置且滑动连接的第一调节平台和第二调节平台；第一调节平台设置有第一驱动装置，第一驱动装置与第二调节平台传...
- 侯立飞杜华冰谢旭飞车兴森韦敏习王静杨国洪尚万里
- Silex-I飞秒激光装置X射线探测系统时间特性被引量：3
- 2013年
- 在Silex-Ⅰ飞秒激光装置上,利用32fs、800nm的激光辐照平面金靶,产生小于1ps的X射线脉冲,作为δ脉冲X射线源,研究XRD探测器的时间响应特性,并且探索X射线条纹相机时间分辨和分幅相机曝光时间的X射线标定方法。实验给出了XRD探测器的时间响应特性。解决了条纹相机和分幅相机触发晃动问题,给出了条纹相机时间分辨和分幅相机曝光时间的X射线标定方法,初步给出条纹相机时间分辨和分幅相机曝光时间。
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- 关键词：XRD条纹相机分幅相机
- 基于X射线荧光光谱的温稠密物质离化分布实验方法研究
- 2024年
- 受温度及密度等环境效应影响,温稠密物质的电子结构发生显著变化,其理论描述非常复杂,精密实验测量亦极其困难.本文发展了基于X射线荧光光谱研究温稠密物质离化分布的实验方法,结合理论研究有助于深入理解温稠密物质的电子结构变化.在万焦耳激光装置上,设计特殊构型黑腔复合加载产生数十eV、近固体密度的稠密Ti物质,利用激光辐照V产生的热发射线泵浦Ti的荧光,并采用晶体谱仪诊断样品的X射线荧光光谱.实验中获得冷样品和加载样品的荧光光谱,观测到加载样品K_(α)及K_(β)荧光谱线相对于冷样品光谱在高能侧的显著变化,结合理论计算解释了加载样品荧光谱线的变化主要来源于其温度上升后离化分布的改变,建立了基于X射线荧光光谱的温稠密物质离化分布实验研究能力.
- 张志宇赵阳青波张继彦林成亮杨国洪韦敏习熊刚吕敏黄成武朱托宋天明赵妍张玉雪张璐李丽灵杜华冰车兴森黎宇坤詹夏宇杨家敏
- 关键词：电子结构X射线荧光光谱
