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邹春梅

作品数：4 被引量：2H指数：1
供职机构：电子科技大学更多>>
相关领域：电子电信理学更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇荧光
  • 2篇荧光分析仪
  • 2篇微结构
  • 2篇无标样
  • 2篇膜厚
  • 2篇基片
  • 2篇方程组
  • 2篇分析仪
  • 2篇薄膜厚度
  • 2篇标样
  • 1篇倒易空间
  • 1篇氧化物
  • 1篇氧化物薄膜
  • 1篇摇摆曲线
  • 1篇应力
  • 1篇射线
  • 1篇临界电流
  • 1篇临界电流密度
  • 1篇薄膜应力
  • 1篇X射线

机构

  • 4篇电子科技大学

作者

  • 4篇邹春梅
  • 3篇左长明
  • 3篇路胜博
  • 1篇姬洪
  • 1篇催旭梅

传媒

  • 1篇功能材料与器...

年份

  • 3篇2007
  • 1篇2006
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
氧化物薄膜应力的X射线衍射表征与研究
氧化物薄膜由于其丰富的物理性质可广泛地被用于微电子学,光电子学以及微电子机械系统等领域。信息时代的发展要求电子器件集成化,导致了传统的体材器件向薄膜化器件、分离器件向集成化器件转变。氧化物薄膜的微结构、应变、形貌以及性能...
邹春梅
关键词：氧化物薄膜微结构应力
无标样测量薄膜厚度和密度的方法
无标样测量薄膜厚度和密度的方法，属于材料分析技术领域。利用X射线以小角度方式入射待测薄膜样品，当入射X射线的有效穿透深度t小于薄膜厚度d时，利用X射线荧光分析仪检测薄膜元素所激发的X射线荧光的相对强度I<Sub>F</S...
左长明路胜博邹春梅
无标样测量薄膜厚度和密度的方法
无标样测量薄膜厚度和密度的方法，属于材料分析技术领域。利用X射线以小角度方式入射待测薄膜样品，当入射X射线的有效穿透深度t小于薄膜厚度d时，利用X射线荧光分析仪检测薄膜元素所激发的X射线荧光的相对强度I<Sub>F</S...
左长明路胜博邹春梅
薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响被引量：2
2007年
用MOD方法在LAO基片上沉积不同厚度的YBCO薄膜。用X射线衍射仪对这一系列样品进行表征分析,研究随着薄膜厚度的增加微结构的变化及临界电流密度的变化。X射线衍射分析发现YBCO薄膜取向度随薄膜厚度的增加,在800nm时取得最佳值之后又随厚度增加由强变弱。晶格常数c随着膜厚的增加而增大。本研究对这一系列样品进行了扫描分析和摇摆曲线半高宽的计算,并对800nm的YBCO薄膜做了倒易空间图谱分析,实验结果发现800nm的YBCO薄膜晶化比较好。本研究还分析了薄膜厚度对YBCO薄膜临界电流密度的影响。
邹春梅左长明路胜博催旭梅姬洪
关键词：YBCO薄膜微结构倒易空间临界电流密度摇摆曲线
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