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电子背散射衍射
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晶体缺陷的
电子
背散射
衍射
成像表征方法
本发明公开了一种晶体缺陷的
电子
背散射
衍射
成像表征方法,该方法利用扫描电镜设备SEM,通过
背散射
电子
通道衬度成像(ECCI)分析缺陷,可以直接观测外延薄膜或单晶块体材料晶体样品中的小角度晶界以及相分离;用位错成像尺寸和黑白...
樊士钊
文人杰
刘蓉
殷宇豪
晶体缺陷的
电子
背散射
衍射
成像表征方法
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电子
背散射
衍射
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背散射
电子
通道衬度成像(ECCI)分析缺陷,可以直接观测外延薄膜或单晶块体材料晶体样品中的小角度晶界以及相分离;用位错成像尺寸和黑白...
樊士钊
文人杰
刘蓉
殷宇豪
扩散焊接Ti-Nb-Cu-Fe复合焊接界面的
电子
背散射
衍射
试样制备方法
本发明提供了扩散焊接Ti‑Nb‑Cu‑Fe复合焊接界面的
电子
背散射
衍射
试样制备方法,包括:S1、切取包含复合焊接界面位置的试块,清洗后吹干得到试样;S2、将试样放入热压镶嵌机,使用碳基导电酚醛树脂粉进行热压镶嵌;S3、将...
陈洁明
王硕
杨雅倩
李志浩
刘攀
一种极薄锂电铜箔弯折处
电子
背散射
衍射
分析测试方法
本发明公开了一种极薄锂电铜箔弯折处
电子
背散射
衍射
分析测试方法,通过预先线切割及高温热处理制备一种去应力、增强导电性的极薄锂电铜箔弯折试样;使用导电银浆料粘合试样非弯折开口端,采用氩离子抛光仪对弯折极薄锂电铜箔样品进行截面...
黎紫霖
葛洪鑫
江泱
一种结构简单的金属
电子
背散射
衍射
试样振动抛光设备
本发明提出一种用于制备金属
电子
背散射
衍射
试样的振动抛光机,属于机械研磨抛光以及金相制备技术领域。本振动抛光机,振动盘为T型结构,上部分经数个螺栓与抛光盘连接,并安置在基座内台阶上;下部分为带有加强筋的长方形板状结构,经多...
蔡青山
韩一帆
刘文胜
马运柱
孟尚儒
陈以涛
洪历
一种同轴透射
电子
背散射
衍射
花样的两步匹配标定方法
本发明提供一种同轴透射模式
电子
背散射
衍射
花样的两步匹配标定方法。包括如下步骤:将待检样品水平置于扫描电镜中,设置
电子
背散射
衍射
探测器的最佳工作距离、倾转角度;在待检样品底部采集
电子
背散射
衍射
花样信号;模拟待检样品的所有可...
王墉哲
曾毅
张积梅
彭帆
刘紫微
林初城
宋雪梅
一种可倾转透射模式
电子
背散射
衍射
实验装置
本发明公开了一种可倾转透射模式
电子
背散射
衍射
实验装置,包括固定在扫描电镜观察台面的机座,所述机座上开设有开槽,开槽的后侧机座上设有固定板,所述固定板上固定有伺服电机,在伺服电机的转子上固定有主动同步带轮;所述开槽的两侧设...
曹亚楠
段宝玉
谭心
赵瑞超
张邦文
王海燕
诸葛晨昱
李一鸣
霍文霞
段宝龙
用于进行
电子
背散射
衍射
样品表征的方法和设备
一种对通过
电子
背散射
衍射
成像的样品进行分析的方法。所述方法包括标识所述样品上的位置的
电子
背散射
衍射
图像中的多个菊池带。所述方法进一步包括对于每个所标识的菊池带,至少部分地基于对所述样品上的所述位置的估计形成所述菊池带的相...
A·P·戴伊
C·J·斯蒂芬斯
P·斯特吉斯卡尔
M·培翠克
一种基于
电子
背散射
衍射
花样的菊池极筛选方法和介质
本申请提供一种基于
电子
背散射
衍射
花样的菊池极筛选方法和介质,根据待检样品的
电子
背散射
衍射
花样中每个菊池极的第一坐标和晶向指数,以及
电子
背散射
衍射
花样中心的第二坐标、待检样品到探头的屏幕之间的距离值,计算
电子
背散射
衍射
花样...
彭帆
曾毅
孙玥
黄怡玲
郑维
HR3C奥氏体耐热钢晶界蠕变损伤的
电子
背散射
衍射
分析
2024年
对不同条件下的HR3C奥氏体耐热钢蠕变试样进行性能测试和微观结构观察,研究奥氏体耐热不锈钢蠕变沿晶破坏行为和损伤特征。
电子
背散射
衍射
(EBSD)分析结果表明,不同蠕变速度下材料的晶粒尺寸基本不变,未产生择优取向,但高蠕变速度条件下部分孪晶界演变成一般晶界,而低蠕变速度下原始孪晶结构基本保持不变。EBSD分析结果清楚地反映了微观蠕变应变的不均匀性。沿晶微裂纹和蠕变空洞的产生和扩展是最显著的损伤特征,这些损伤现象与不同蠕变速度下的蠕变机制及晶界性质密切相关。
胡正飞
张家乐
张洁
关键词:
奥氏体耐热钢
蠕变
晶界
电子背散射衍射
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吉元
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