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具有与模式无关的测试 访问 机制 的测试 调度 测试 基于电路的系统中的多个核心的测试 调度的方法、装置和系统的代表性实施例。测试 数据被编码以导出需要少量核心输入信道的压缩测试 模式。每个压缩测试 模式的核心输入/输出信道要求信息被相应地确定。压缩模式被分...基于SoCs结构的测试 访问 机制 的研究与实现 关键词：封装设计 集成电路制造 嵌入式系统芯片 片上系统 具有与模式无关的测试 访问 机制 的测试 调度 测试 基于电路的系统中的多个核心的测试 调度的方法、装置和系统的代表性实施例。测试 数据被编码以导出需要少量核心输入信道的压缩测试 模式。每个压缩测试 模式的核心输入/输出信道要求信息被相应地确定。压缩模式被分...基于外壳架构与测试 访问 机制 的数字芯核可测试 性设计 被引量：2 2012年 测试 方法不再能满足芯核测试 的需要.IEEEStdl 500针对此问题提出了芯核的可测试 性设计方案——外壳架构和测试 访问 机制 .基于IEEE Stdl 500.以74373与741 38软梭为例,提出数字芯梭可测试 性设计的方法,并通过多种指令仿真验证了设计的合理性;设计的TAM控制器复用JTAC-端口,节约了测试 端口资源.提供了测试 效率.关键词：IEEE 可测试性 测试访问机制 面向众核处理器的可扩展测试 访问 机制 测试 性设计(DFT)也变得日益复杂.传统的可测试 性设计方法将整个芯片作为一个模块,进行扫描设计和存储器内建自测试 设计,难以保证众核处理器的测试 质量和测试 开发周期.模块化的...关键词：测试访问机制 可扩展 模块化 SOC测试 访问 机制 与测试 调度的研究与设计 测试 就成为了其应用的主要的瓶颈。本文从SOC可测试 性设计...关键词：集成电路 片上系统 芯片设计 电路测试 SoC测试 访问 机制 和测试 壳的蚁群联合优化 被引量：7 2009年 测试 壳优化和测试 访问 机制 的测试 总线划分问题,提出了基于蚁群算法的SoCWrapper/TAM联合优化方法.构造蚁群算法时首先进行IP核的测试 壳优化,用于缩短最长扫描链长度,减少单个IP核的测试 时间;在此基础上进行TAM结构的蚁群优化,通过算法迭代逼近测试 总线的最优划分,从而缩短SoC测试 时间.对ITC2002基准SoC电路进行实验的结果表明,该方法能有效地解决SoC测试 优化问题.关键词：蚁群算法 测试访问机制 系统芯片 基于遗传算法的测试 访问 机制 最优化 被引量：1 2007年 测试 访问 机制 最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说明采用遗传算法对测试 访问 机制 进行最优化处理的效果要好于ILP。关键词：系统芯片 测试访问机制 遗传算法 SOC测试 访问 机制 被引量：6 2006年 测试 访问 机制 (TAM,TestAccessMechanism)实现对深嵌在SOC(SystemOnChip)内部的IP核(In鄄tellectualProperty,知识产权模块)的测试 ,是解决SOC测试 的根本方法。本文将介绍现有的几类典型的测试 访问 机制 :(1)直接测试 访问 ,(2)基于总线的测试 访问 机制 ,(3)基于透明模型的访问 机制 等。分析它们的特点,探讨面临的主要问题。关键词：SOC IP核 测试访问机制 复用 数字芯片的测试 访问 架构与测试 访问 方法 测试 访问 架构与测试 访问 方法，属于集成电路测试 技术领域。所述架构包括：由数字芯片内的所有模块划分的N个测试 组；其中，所述N个测试 组的每一个测试 组中包括多个测试 模块，所述每一个测试 组中的所述多个...
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