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测试程序
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产品样本
科技报告
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排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
相关度排序
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
测试程序
的生成方法、
测试
方法及相关装置
公开了一种用于
测试程序
的生成方法、
测试
方法及相关装置。该生成方法包括:获得目标
程序
运行过程中的内存访问相关信息,该内存访问相关信息包括第一地址集合和指示信息,第一地址集合包括目标
程序
的感兴趣区域中的每条指令访问的内存地址...
周超
杨光唯
测试程序
的生成方法、装置、电子装置及存储介质
本申请涉及
测试程序
的生成方法、装置、电子装置及存储介质,该方法包括:获取从当前执行的
测试程序
对应的多个第一索引信息中所选出的多个第二索引信息,第一索引信息是将
测试程序
对应的第一CSV文件加载于预设的表格控件后生成的;在第...
陈量聪
测试程序
生成方法、装置、计算机设备和可读存储介质
本申请提供一种
测试程序
生成方法、装置、计算机设备和可读存储介质,属于软件开发技术领域。该
测试程序
生成方法包括:获取目标芯片的
测试
需求文档;解析
测试
需求文档,以得到
测试
需求文档对应的关键词信息;基于预设的
测试
开发模型以及关...
李彬
董航奇
扆毅
一种
测试程序
的性能参数预测方法及装置、电子设备
本发明实施例公开一种
测试程序
的性能参数预测方法及装置、电子设备、存储介质,涉及计算机技术领域,能够有效提高
测试程序
的性能参数预测的速度和准确性。所述方法包括:获取第一平台的平台规格参数作为第一参数组,其中,所述平台规格参...
王思博
倪亚路
丛日本
刘伟锋
肖涛
一种基于强化学习的车辆域控制器EOL
测试程序
生成方法
本发明属于EOL下线
测试程序
自动生成领域,具体涉及一种基于强化学习的车辆域控制器EOL
测试程序
生成方法。包括以下步骤:S1:从原理图中获取的元器件原始数据,将原始电路及元器件连接属性进行数据处理,组合成最小电路组合数据;...
王成
张军旗
党寅
刘钦源
程大伟
王利莹
朱航宇
王朝栋
一种RISC-V DSP芯片
测试程序
脚本优化方法、系统和存储介质
本发明提供了一种RISC‑V DSP芯片
测试程序
脚本优化方法、系统和存储介质,首先,根据第一次数信息对待测功能进行分组,从而将异常率较高的待测功能排在靠前的组别,从而减少异常芯片的
测试
时间;然后,根据第一配置模块信息对待...
李焕
吴军宁
张劲松
聚丙烯质量流动速率
测试程序
的优化
2025年
通过对仪器预热稳定时间、氮气吹扫、抗氧剂配方、
测试
位置、口模清洁度这些影响不同聚丙烯质量流动速率(MFR)的因素进行
测试
试验分析,得到了聚丙烯MFR最佳的
测试
方法,规范了
测试
的操作过程,保证了聚丙烯MFR
测试
的准确度与精确度。
张强
李鑫
张仲明
张锋锋
石正宝
刘英
李强
李庆毅
卿立松
关键词:
口模
MFR
聚丙烯
一种RISC-V DSP芯片ATE
测试程序
优化方法、系统和存储介质
本发明提供了一种RISC‑V DSP芯片ATE
测试程序
优化方法、系统和存储介质,首先,判断第一模块序列和第二模块序列中是否存在相同模块,若是,则提取第一模块序列中的第一模块信息和第二模块序列中的第二模块信息;然后,根据第...
李焕
吴军宁
张劲松
芯片
测试程序
生成方法、装置、电子设备及存储介质
本发明涉及半导体
测试
技术领域,提供一种芯片
测试程序
生成方法、装置、电子设备及存储介质。首先根据
测试
需求信息,确定待测芯片的每个第一
测试
项目信息和/或每个第二
测试
项目信息;然后基于全部第一
测试
项目信息和通用库获得第一
测试
资...
李超
自动化验证和
测试程序
指导
提供了一种方法和系统,以允许验证
测试
,例如护理点血液
测试
,是否已正确执行。在图像设备,如智能手机,上的软件应用
程序
在
测试程序
的一个或多个阶段捕捉特定图像,这些图像经过处理和分析,以确保它们与
程序
中该阶段的
测试
单元的正确状...
罗希特·克特卡尔
钱德拉·苏库马尔
约翰·凯利
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邱田华
作品数:30
被引量:6
H指数:2
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:测试程序 面向信号 信号 自动生成方法 测试仪器
刘毅
作品数:34
被引量:24
H指数:3
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:面向信号 测试程序 自动测试系统 信号 自动生成方法
宋斌
作品数:31
被引量:6
H指数:1
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:面向信号 测试程序 信号 自动生成方法 测试站
吴波
作品数:27
被引量:0
H指数:0
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:面向信号 测试程序 信号 自动生成方法 测试站
谭旭
作品数:25
被引量:11
H指数:3
供职机构:中国电子科技集团公司第四十一研究所
研究主题:测试程序 面向信号 自动生成方法 测试仪器 测试系统
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