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一种校准系统及校准方法: 本申请实施例提供了一种校准系统及校准方法，校准系统包括检测装置、分束器、第一光学元件、第二光学元件、第三光学元件、第一相机和第二相机，第二光学元件与测量物镜用于获取测量光束，并根据测量光束将校准标记成像至第一相机以形成第...; 陈鲁姚本溪莫云杰吕肃

时间校准方法、装置和系统: 本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种时间校准方法、装置和系统，通过数据管理系统对位于不同时区的待校时设备下发同一条广播校时命令，广播校时指令包括数据管理系统的本地当前时间和时间偏离参数，位于不同时区的待校时设备根据数据...; 贾燕生张宇贺助理金虎

一种校准系统及校准方法: 本发明公开了一种校准系统及校准方法，校准系统包括电子设备和校准设备，电子设备包括主体部和佩戴部，佩戴部设置有至少一个第一传感器。校准设备包括本体部和至少一个第二传感器。电子设备能够套接于本体部，并与校准设备通信连接，第一...; 石佳炜郭之鑫陈孟机范伟

校准方法、电子设备和校准装置: 本公开实施例公开了一种校准方法、电子设备和校准装置，所述方法应用于具有处理单元和发射机的电子设备中，所述方法包括：发射机发射具有第一工作频率的第一单音信号；处理单元接收所述第一单音信号，并基于所述第一单音信号，从至少一个...; 高丽华李红卫高原

PCB加工设备及主轴校准方法: 本发明涉及电路板加工技术领域，公开了一种PCB加工设备及主轴校准方法，PCB加工设备，包括：第一主轴、第二主轴、机床组件、检测件和第一调节组件，机床组件包括横梁和加工台，横梁架设在加工台的上方，加工台上设有校准件，校准件...; 谭艳萍刘鹏王星黎勇军杨朝辉

组合刀具、校准装置及校准方法: 本发明涉及机加工技术领域，具体公开了一种组合刀具，包括刀柄、中心钻和端面铣刀，中心钻安装在刀柄中心，端面铣刀分布在中心钻周围并安装在让位槽内。校准装置包括安装基座和测量机构，测量机构设有夹紧组件、定位组件和校准组件，对组...; 李德双侯新明

轨迹校准方法和轨迹校准系统: 一种用于线性马达系统的轨迹校准的方法，包括‑控制线性马达以在校准运行中沿着轨道移动传送元件，‑在校准运行中，基于来自相应线性马达及其相邻线性马达的位置传感器的位置反馈信号，确定每个线性马达的部段边界处的位置跳变，‑根据所...; Z·韩R·乌尔瑟

内窥镜的校准装置以及校准方法: 本发明涉及一种内窥镜的校准装置以及校准方法，包括定位器件、调节器件和成像器件，所述定位器件能够用于固定内窥镜的手柄和/或内窥镜的镜管，所述调节器件具有转动调节部，所述转动调节部能够用于转动内窥镜的镜头，所述成像器件包括光...; 请求不公布姓名请求不公布姓名何裕源

一种通道自校准方法、系统及应用: 本发明属于设备校准技术领域，公开一种通道自校准方法、系统及应用，该方法包括：采集测量装置的原始测量值，基于原始测量值计算零点偏置值，得到零点偏置校准结果；采集测量装置的标准校准信号，基于标准校准信号计算双极性增益系数，得...; 金顺王建雷浩

一种磁按键校准方法及校准设备: 本发明涉及电子产品校准技术，公开了一种磁按键校准方法及校准设备，校准方法包括以下步骤：当磁按键处于第一按压位置时，使用参照源与信号数字化模块对磁传感器输出的电信号进行读数，参照源读数为a，信号数字化模块读数为b；判断a与...; 夏俊稳

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吴爱华: 作品数：347被引量：145H指数：7; 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所; 研究主题：校准 S参数校准方法终端设备计量学

梁法国: 作品数：294被引量：199H指数：9; 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所; 研究主题：校准 S参数终端设备校准方法测量系统

刘晨: 作品数：140被引量：52H指数：5; 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所; 研究主题：校准 S参数校准方法串扰终端设备

张广军: 作品数：656被引量：2,626H指数：27; 供职机构：北京航空航天大学; 研究主题：星敏感器结构光星图识别靶标平面靶标

王一帮: 作品数：139被引量：41H指数：5; 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所; 研究主题：校准 S参数终端设备校准方法传输线