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2025年7月12日星期六

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搜索到3228篇“ 可测试性“的相关文章

面向可测试性设计的SoC缓存测试方法: 本发明公开了一种面向可测试性设计的SoC缓存测试方法。该方法通过隔离L1Cache并配置指令区域为可缓存，以减少对L2Cache的不必要访问，同时定义预设大小的测试空间，确保覆盖所有潜在缓存区域。在测试开始前，保持L2C...; 李艳婷

可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质: 本公开提供了一种可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质，属于可测试性设计技术领域，该可测试性设计电路图形化的方法包括：从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息；根据可测试性设计电...; 于天笑王盼盼

可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质: 本公开提供了一种可测试性设计电路图形化的方法、装置、设备及存储介质，属于可测试性设计技术领域，该可测试性设计电路图形化的方法包括：从芯片可测试性设计阶段的电路描述信息中，查找可测试性设计电路的描述信息；根据可测试性设计电...; 于天笑王盼盼

芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法: 本发明提供一种芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法，该装置包括芯片设计文件处理模块，用于接收芯片设计文件；可测试性设计电路生成与标记模块，用于根据芯片的可测试性设计规则在芯片的电路中添加测试点和观察点；资源动态计算模块...; 赵毅符露黄杰英李少白莫晓霖陈钰文胡坤梅

芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法: 本发明提供一种芯片可测试性设计程序代码生成装置及方法，该装置包括芯片设计文件处理模块，用于接收芯片设计文件；可测试性设计电路生成与标记模块，用于根据芯片的可测试性设计规则在芯片的电路中添加测试点和观察点；资源动态计算模块...; 赵毅符露黄杰英李少白莫晓霖陈钰文胡坤梅

用于具有可测试性的AI/ML波束预测的测量精度要求: 一种用于通信的装置，包括：至少一个处理器；以及存储指令的至少一个存储器，当所述指令由所述至少一个处理器执行时，使所述装置至少：基于指示波束管理模式的配置来确定波束管理模式；切换到所述波束管理模式；在所述波束管理模式下操作...; T·桑官普亚克F·赛义德·穆罕默德F·沃克A·M·艾哈迈迪安·德黑兰尼A·邦凡特D·戈尔德

测试负载板、可测试性系统及芯片测试方法: 本发明公开一种可测试性设计的测试负载板、可测试性系统、以及芯片测试方法，其中，所述测试负载板包括相互耦接的测试母板和测试子板，在测试子板上设有测试资源共享电路，通过所述测试资源共享电路能将一路测试资源转换为多路测试资源，...; 韩信于长亮陆帅帅路瑶

测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备: 本申请公开一种测试控制电路及方法、可测试性设计芯片、电子设备，测试控制电路包括信号扩展模块和序列检测模块；所述信号扩展模块用于根据所述测试时钟信号将所述测试输入信号扩展为测试使能信号和测试复位信号，所述测试使能信号和所述...; 刘东熊立双

芯片的可测试性设计架构、芯片测试方法、芯片和终端设备: 本申请提供一种芯片的可测试性设计架构、芯片测试方法、芯片、无线电器件和终端设备，涉及芯片技术领域。一种芯片的可测试性设计架构，所述架构设置于芯片内部，用于对所述芯片的多个测试链进行上电自测试、运行间歇自测试和出厂测试中的...; 李太东

南桥芯片的IP核可测试性设计与优化: 随着集成电路和深亚微米工艺的发展,芯片测试变得越来越困难,成本越来越高,可测试性设计变得越来越重要。提高芯片的覆盖率,降低测试成本,提高测试向量的效率和质量成为了可测试性设计领域研究的重点。本文选取南桥芯片中一个IP(I...; 刘洁; 关键词：可测试性设计测试向量

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李晓维: 作品数：487被引量：801H指数：13; 供职机构：中国科学院计算技术研究所; 研究主题：集成电路芯片扫描链片上网络电路

胡政: 作品数：113被引量：436H指数：12; 供职机构：国防科学技术大学; 研究主题：故障诊断可测试性多信号模型测试性边界扫描测试

向东: 作品数：388被引量：877H指数：16; 供职机构：清华大学; 研究主题：测试向量自适应路由扫描链路由方法无死锁

李华伟: 作品数：226被引量：282H指数：10; 供职机构：中国科学院计算技术研究所; 研究主题：时延测试时延集成电路片上网络串扰

温熙森: 作品数：259被引量：1,871H指数：22; 供职机构：国防科学技术大学; 研究主题：故障诊断声子晶体机内测试神经网络随机共振