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半导体测试结构
本公开实施例涉及一种半导体测试结构。包括:多个第一测试单元、多个第二测试单元、第一测试焊盘和第二测试焊盘;第一测试单元和第二测试单元交替排布;多个第一测试单元首尾顺次连接,构成第一串联结构,第一串联结构的一端连接第一测试...
杨铧
一种半导体测试方法
本发明涉及集成电路自动化测试设备领域,尤其涉及一种半导体测试方法。该方法包括在编译过程中,判断测试向量中指令周期数量是否固定;若所述测试向量中存在周期数量不固定的指令,则将周期数量不固定的指令按照固定次数来记录。通过将周...
王海丰胡婷婷马军
一种半导体测试系统
本实用新型属于半导体测试技术领域,其目的在于提供一种半导体测试系统。本实用新型公开了一种半导体测试系统,包括主控模块、激光发射模块、电容式传感器和采样信号处理模块。本实用新型在实施过程中,由于通过激光发射模块向被测件发射...
王奇琦袁齐
一种半导体测试管理系统
本发明公开了一种半导体测试管理系统,涉及半导体测试技术领域,解决了缺少在晶元生产的不同阶段对性能的检测和评估,难以及时在生产阶段检测晶圆是否存在性能异常的技术问题;通过节点预警模块根据各个节点的半导体晶圆的阶段性能评估系...
宋奇孔令均
半导体测试结构及其测试方法
本发明提供一种半导体测试结构及其测试方法。半导体测试结构设置于晶圆的划片道上,包括:晶体管,包括衬底、源极、漏极和栅极;电熔丝,包括第一端和第二端;其中,源极通过第一金属线电连接至第一焊盘,电熔丝的第二端通过第二金属线电...
郭丽娜刘翔
半导体测试结构和测试方法
一种半导体测试结构和测试方法,其中结构包括:基底;位于所述基底上的若干MOS器件,各所述MOS器件包括栅极、源区和漏区,所述源区和漏区分别位于各栅极之间的所述基底内,若干所述栅极、若干所述漏区和若干所述源区沿第一方向排布...
郭俊男
半导体测试结构及半导体测试方法
本公开涉及一种半导体测试结构及半导体测试方法,涉及半导体技术领域。所述半导体测试结构包括:至少一组半导体器件、第一测试电路以及第二测试电路。第一测试电路与对应组的半导体器件相连,用于在正常模式下测量半导体器件的关态电流。...
蒲源姚福民刘仕雯徐慧虹
半导体测试结构及半导体测试方法
本公开涉及一种半导体测试结构及半导体测试方法,涉及半导体技术领域。所述半导体测试结构包括:至少一组半导体器件、第一测试电路以及第二测试电路。第一测试电路与对应组的半导体器件相连,用于在正常模式下测量半导体器件的关态电流。...
蒲源姚福民刘仕雯徐慧虹
半导体测试结构及半导体测试方法
本公开涉及一种半导体测试结构及半导体测试方法,半导体测试方法包括:接入测试件;测试件包括待测电路;待测电路与芯片中的感测放大电路具有相同的结构;向待测电路输入测试信号;测试信号模拟于感测放大电路在工作状态下的输入信号;由...
白文琦
一种半导体测试用多方式测试系统
本发明提供了一种半导体测试用多方式测试系统,包括PC主机以及与PC主机之间信号连接的DA模块和AD模块,PC主机通过DA模块信号连接有信号控制模块,信号控制模块信号连接有功率输出模块,功率输出模块信号连接有测试模块,测试...
杨炜光张永健郭胜岩李耀武白晓辉叶晋涛

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徐耿钊
作品数:82被引量:9H指数:2
供职机构:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
研究主题:半导体测试 探针 原子力显微镜 半导体 超高真空
邱永鑫
作品数:20被引量:4H指数:1
供职机构:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
研究主题:半导体测试 半导体 测量方法 显微镜系统 真空阀门
曾雄辉
作品数:107被引量:107H指数:6
供职机构:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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周桃飞
作品数:44被引量:11H指数:2
供职机构:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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王建峰
作品数:139被引量:26H指数:3
供职机构:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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