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半导体测试
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科技报告
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
相关度排序
相关度排序
被引量排序
时效性降序
时效性升序
半导体
测试
结构
本公开实施例涉及一种
半导体
测试
结构。包括:多个第一
测试
单元、多个第二
测试
单元、第一
测试
焊盘和第二
测试
焊盘;第一
测试
单元和第二
测试
单元交替排布;多个第一
测试
单元首尾顺次连接,构成第一串联结构,第一串联结构的一端连接第一
测试
...
杨铧
一种
半导体
测试
方法
本发明涉及集成电路自动化
测试
设备领域,尤其涉及一种
半导体
测试
方法。该方法包括在编译过程中,判断
测试
向量中指令周期数量是否固定;若所述
测试
向量中存在周期数量不固定的指令,则将周期数量不固定的指令按照固定次数来记录。通过将周...
王海丰
胡婷婷
马军
一种
半导体
测试
系统
本实用新型属于
半导体
测试
技术领域,其目的在于提供一种
半导体
测试
系统。本实用新型公开了一种
半导体
测试
系统,包括主控模块、激光发射模块、电容式传感器和采样信号处理模块。本实用新型在实施过程中,由于通过激光发射模块向被测件发射...
王奇琦
袁齐
一种
半导体
测试
管理系统
本发明公开了一种
半导体
测试
管理系统,涉及
半导体
测试
技术领域,解决了缺少在晶元生产的不同阶段对性能的检测和评估,难以及时在生产阶段检测晶圆是否存在性能异常的技术问题;通过节点预警模块根据各个节点的
半导体
晶圆的阶段性能评估系...
宋奇
孔令均
半导体
测试
结构及其
测试
方法
本发明提供一种
半导体
测试
结构及其
测试
方法。
半导体
测试
结构设置于晶圆的划片道上,包括:晶体管,包括衬底、源极、漏极和栅极;电熔丝,包括第一端和第二端;其中,源极通过第一金属线电连接至第一焊盘,电熔丝的第二端通过第二金属线电...
郭丽娜
刘翔
半导体
测试
结构和
测试
方法
一种
半导体
测试
结构和
测试
方法,其中结构包括:基底;位于所述基底上的若干MOS器件,各所述MOS器件包括栅极、源区和漏区,所述源区和漏区分别位于各栅极之间的所述基底内,若干所述栅极、若干所述漏区和若干所述源区沿第一方向排布...
郭俊男
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法
本公开涉及一种
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法,涉及
半导体
技术领域。所述
半导体
测试
结构包括:至少一组
半导体
器件、第一
测试
电路以及第二
测试
电路。第一
测试
电路与对应组的
半导体
器件相连,用于在正常模式下测量
半导体
器件的关态电流。...
蒲源
姚福民
刘仕雯
徐慧虹
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法
本公开涉及一种
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法,涉及
半导体
技术领域。所述
半导体
测试
结构包括:至少一组
半导体
器件、第一
测试
电路以及第二
测试
电路。第一
测试
电路与对应组的
半导体
器件相连,用于在正常模式下测量
半导体
器件的关态电流。...
蒲源
姚福民
刘仕雯
徐慧虹
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法
本公开涉及一种
半导体
测试
结构及
半导体
测试
方法,
半导体
测试
方法包括:接入
测试
件;
测试
件包括待测电路;待测电路与芯片中的感测放大电路具有相同的结构;向待测电路输入
测试
信号;
测试
信号模拟于感测放大电路在工作状态下的输入信号;由...
白文琦
一种
半导体
测试
用多方式
测试
系统
本发明提供了一种
半导体
测试
用多方式
测试
系统,包括PC主机以及与PC主机之间信号连接的DA模块和AD模块,PC主机通过DA模块信号连接有信号控制模块,信号控制模块信号连接有功率输出模块,功率输出模块信号连接有
测试
模块,
测试
...
杨炜光
张永健
郭胜岩
李耀武
白晓辉
叶晋涛
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