搜索到347篇“ 互连测试“的相关文章
全部数字资源类型
相关度排序
一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法
本发明提出一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法，所述测试方法包括如下步骤：步骤S1、SVF编写互连测试程序；步骤S2、将编写好的SVF程序解析成模式捕获格式文件；步骤S3、将模式捕获格式文件中符合JTAG总线时序的...
戴志坚杨万渝李荣杰
基于毛纽扣的BGA芯片垂直互连测试模块
基于毛纽扣的BGA芯片垂直互连测试模块，包括基座，所述基座的内部安装有PCB电路板，所述PCB电路板的表面嵌入有外部接口、第一SMA连接器以及第二SMA连接器；所述PCB电路板的表面设有毛纽扣模块，所述毛纽扣模块内置有矩...
汪海英宋德柱吕淑起王正东杨妍戴智伟
一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构
本发明涉及超大规模数字集成电路测试领域，具体涉及一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构。包括：分段边界扫描链模块，将片内所有的扫描链按照互连对象进行划分；TAP控制器模块，用于根据JTAG输入信号，控制内部测试电路的动作；...
魏敬和章震殷誉嘉于宗光刘国柱高营何健滕浩然
芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备
本申请实施例提供了一种芯片互连测试方法、芯片测试系统及自动化测试设备，应用于芯片技术领域，以解决目前的测试方案对互连口的各个通道进行测试时，结果不够准确的问题。其中，上述的芯片测试系统包括第一芯片和第二芯片；第一芯片与第...
许团辉朴英珲崔昌明
芯粒互连测试向量生成与测试方法研究
2024年
基于芯粒的2.5D和3D集成系统产品都具有大量的芯粒间互连,不可避免地会出现各种制造缺陷,互连测试对于提高2.5D和3D集成系统产品规模生产过程中的质量和产量至关重要。在研究传统的I-ATPG和真/补测试算法等互连测试方法的基础上提出了一种新的代码字编码方法,只需要4个代码字即可对所有矩形网络和六角网络进行代码字编码。设计了一种基于IEEE1838标准的芯粒集成系统测试架构,给出了一种典型的双芯粒互连电路并进行了测试和仿真验证,以系统性地介绍芯粒间互连测试技术。
解维坤解维坤殷誉嘉王厚军
关键词：互连测试可测性设计
金属互连测试结构及电迁移测试方法
本发明提供一种金属互连测试结构及电迁移测试方法，金属互连测试结构包括测试金属线和金属加热器，金属加热器位于测试金属线的相邻层或者外周，通过金属加热器来产生热量进而加热测试金属线。由于金属加热器位于测试金属线的相邻层或者外...
盛鑫朱业凯范庆言朱月芹
硅转接板的互连测试夹具及互连测试方法
本发明属于先进电子封装技术领域，公开了一种硅转接板的互连测试夹具及互连测试方法，测试夹具包括夹具本体和若干硅胶垫，夹具本体上开设通孔及真空接头，通孔内壁上设置晶圆放置环，晶圆放置环上设置若干腔体，腔体上开设真空吸附沟槽和...
潘鹏辉吴道伟李宝霞刘建军
一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构
本发明涉及超大规模数字集成电路测试领域，具体涉及一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构。包括：分段边界扫描链模块，将片内所有的扫描链按照互连对象进行划分；TAP控制器模块，用于根据JTAG输入信号，控制内部测试电路的动作；...
魏敬和章震殷誉嘉于宗光刘国柱高营何健滕浩然
一种具有互连测试功能的多裸片FPGA
本申请公开了一种具有互连测试功能的多裸片FPGA，涉及FPGA技术领域，该多裸片FPGA利用硅连接层集成多个FPGA裸片，减少加工难度，提高芯片生产良率，加快设计速度；同时在每个FPGA裸片内部利用逻辑资源模块配置形成的...
单悦尔徐彦峰范继聪张艳飞闫华
一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法
本发明提出一种基于ATE的SIP芯片内部互连测试方法，所述测试方法包括如下步骤：步骤S1、SVF编写互连测试程序；步骤S2、将编写好的SVF程序解析成模式捕获格式文件；步骤S3、将模式捕获格式文件中符合JTAG总线时序的...
戴志坚杨万渝 李荣杰
加载更多 ∨

相关作者

雷加
作品数：76被引量：161H指数：7
供职机构：桂林电子科技大学
研究主题：边界扫描测试 可测性设计 混合信号 混合信号电路 互连测试
颜学龙
作品数：128被引量：329H指数：8
供职机构：桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
研究主题：边界扫描测试 故障诊断 测试矢量 IEEE 模拟电路故障诊断
尚玉玲
作品数：217被引量：170H指数：7
供职机构：桂林电子科技大学
研究主题：线束 TSV 串扰 微通道 绑扎
刘国柱
作品数：145被引量：64H指数：4
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题：抗辐射 高可靠 浮栅 反熔丝 总剂量
魏敬和
作品数：337被引量：226H指数：7
供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所
研究主题：电路 互连 互联 系统芯片 流水线模数转换器